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  • 产品名称: 硅球间隔物
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  UniSil®硅球间隔物,具有非常窄的粒径分布,能够控制盒厚,不会对基板造成损坏,清晰度更高。纳微科技的硅球品种很多,应用广泛。

 

产品特点

  ※ 微球粒径非常均一,变异系数CV小于2.5%
  ※ 微球单分散性好,无重叠或团聚
  ※ 微球纯度高,无污染
  ※ 微球机械强度高,K>4500
  ※ 微球具有较好的耐热性、耐寒性以及耐化学品性

 

UniSil®硅球间隔物的扫描电镜图

UniSil®硅球间隔物粒径非常均一

  UniSil®硅球的颗粒大小和分布是用公认的测试仪器(Beckman Coulter Counter Multisizer)和方法来确定的。为了确保结果的准确性,每次测量之前都用NIST可溯源标准颗粒来校正。UniSil硅球粒径分布图说明纳微生产的UniSil硅球无论大小都具有高度的均匀性。变异系数,Coefficient Value (CV)%=(standard deviation/average diameter)x100, 控制在2.5% 以下。

UniSil®硅球间隔物粒径分布图(微球的粒径是用NIST溯源的标准颗粒校正的Beckman Coulter Counter Multisizer 3精确测试)

 

UniSil®硅球纯度高,无污染

  UniSil®硅球离子含量会直接影响到液晶的质量,因此我们在制备和清洗过程中都采用去离子水,产品定期抽样检查。

 

Substance

Control Limit

Test Method

Fe

≤ 2 ppm

ICP Spectrometer

Ca

≤ 2 ppm

K

≤ 2 ppm

Na

≤ 2 ppm

Cl

≤ 1 ppm

Ion Chromatography

 

UniSil®硅球间隔物符合RoHS指令

  UniSil®硅球间隔物在生产过程中不使用欧盟RoHS指令中所禁止的元素,不含RoHS 所禁止的有机物质及重金属,纳微每年更新一次RoHS检测报告。有需求的客户可以索要RoHS检测结果复印件。

 

Substance

Test Result

(N.D. = Not Detectable)

Cd

N.D.

Pb

N.D.

Hg

N.D.

Cr6+

N.D.

PBBs

N.D.

PBDEs

N.D.

 

 

UniSil®硅球间隔物产品目录

  纳微科技提供两个系列UniSil硅球产品:Si和SiS。库存产品的粒径尺寸从1.5 µm到25 µm, 3 µm到9 µm每隔0.1 µm一个标尺。其中Si系列主要用于边框合厚的控制,SiS主要用于特殊要求的合内的合厚控制。

 

UniSil®硅球物理特性

 

检测项目

测试结果

测试方法

平均粒径, µm

± 0.05

库尔特粒度分析计数仪

Coulter Counter

粒径分布CV值

1.0% -2.5%

库尔特粒度分析计数仪

Coulter Counter

10% K值

10% Modulus of Elasticity, kgf/mm2

> 4500

Shimadzu MCT210

比重,g/cm3

2.1

Multi-Volume Density test

热分解温度

Thermal Decomposition Temp, °C in air

不分解

-

折射率

Refractive Index

1.46

20 ºC, λ=589 nm

 

Series

Product

CV

Diameter

Increment

Application

Si

NM Si

 2.5%

1.5 – 25.0 µm

0.10 µm

Side Spacer

SiS

NM SiS

 2.0%

1.5 – 25.0 µm

0.10 µm

TN, STN

客户可以根据需求选择合适的UniSil硅球产品。
纳微科技拥有先进的技术,完善的生产和检测仪器设备,可以严格控制产品的质量。

通用准则:

NM Si XXX;NM SiS XXX
NM - NanoMicro(纳微)缩写
Si - 二氧化硅微球中适用于边框的产品;SiS - 二氧化硅微球中适用于盒内的产品
XXX - 粒径标称 如:065 – 6.5 µm, 100 - 10.0 µm
备 注:

1. 粒径每间隔0.1 µm 为一个产品规格,也可以根据客户需求特殊定制;
2. 可根据客户需求提供小于1.5 µm及25.0 µm以上大小的特殊品种;
3. 测试方法: Beckman Coulter counter Multisizer 3;
4. 变异系数计算方法:变异系数 (C.V.)%=(标准偏差/平均粒径)×100%。

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